时间:2024-08-28 19:02:05
scan测试的基本原理 scan测试的基本过程
综上所述:scan就是把普通寄存器替换成可扫描的寄存器,目的是创建control和observation点,然后把所有的可扫描寄存器连接在一起串成扫描链(scan chain),利用扫描链,工具自动产生测试pat te rns,让寄存器处于一个特定的值(control),然后将期望的值移出来进行对比(observe),来判断 芯片 是否有缺陷。
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